PERCHTOLDSDORF – Auf der Wiener Dentalschau (WID) 2010 stieß die Präsentation von 3M ESPE auf viel Publikumsinteresse.
Besucher/-innen konnten sich über das neue Universalkomposit Filtek™ Supreme XTE, das auf der WID vorgestellt wurde, informieren und sich ein Gratismuster sichern. Die verbesserte Technologie des Universalkomposites bietet eine einfache Handhabung, transluzente Farben (erstmals auch in Kapselform erhältlich), eine bessere Fluoreszenz und Glanzbeständigkeit bei Dentin-, Schmelz- und Body-Opazitäten. Neben den Produkteigenschaften wurden zudem Verbesserungen in Form einer neuen Etikettierung in Großschrift und farbcodierter Opazitäten vorgenommen, die die Farbauswahl erleichtern. Besonders begeistert zeigten sich die Zahnärzte/-innen von der Möglichkeit, das Komposit gratis zu testen.
Auf der Messe konnte auch der neue Lava Chairside Oral Scanner (COS) von 3M ESPE ausprobiert werden. Zahnärzte/-innen konnten einen digitalen Abdruck nehmen. Mit dem Lava COS ergänzt 3M ESPE sein Portfolio um eine digitale Abformlösung. Die Abdrucknahme per Scan ersetzt somit die Abdrucknahme mit Löffel und Abdruckmaterial. Zahnärzte/-innen, aber auch Zahntechniker/-innen, zeigten sich beeindruckt.
Ungebrochen hohes Interesse bestand an der Polymerisationslampe Elipar S10. Besonders angetan waren die Kunden von dem aus rostfreiem Stahl in einem Stück gefertigten Gehäuse und dem zehn Millimeter breiten Lichtleiter.
WIEN – Vom 20. bis 21. Mai 2016 findet in der Messe Wien die Wiener Internationale Dentalausstellung (WID) statt. Das Drei-Säulen-Konzept ...
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